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【参加費無料】診療報酬改定前の“今”見直したい!IOSデータ診断と形成のチェックポイント

ご好評につき、アーカイブ配信決定しました!
IOS(口腔内スキャナー)での技工物製作が当たり前になった一方で、「スキャンは取れているはずなのに再製が続く」「スキャン漏れを減らしたい」そんなお悩みは増えていませんか?
本WEBセミナーでは、IOSデータの“診断”と、IOSに適した“形成”のチェックポイントを、現場目線でコンパクトに解説します。 2024年6月保険収載されたエンドクラウンの形成についても復習できちゃいます!
期間中いつでもご覧いただけます。
※本セミナーは2026年3月11日に実施したセミナーの再配信です

IOS時代の品質はスキャンと形成で決まる!
再製を減らす”診断の基準”を技工士目線で解説します!

  • 01 スキャン不良の見抜き方
  • 02 IOSに適した形成の基準
  • 03 意外と忘れがち⁉印象中の落とし穴

申し込み・詳細PDF[3.9MB]

開催日時
2026年8月1日(土)~8月15日(土)
視聴方法
オンライン
受講料
無料
申込期日
2026年8月15日(土)
解説
山田 大介
株式会社シケン 東京技工所
日本口腔インプラント学会インプラント専門歯科技工士
問い合わせ
TEL.0885-32-2000(株式会社シケン 営業推進課)

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